資源庫 / 3月14日消息，美國(guó)國(guó)防高級(jí)研究計(jì)劃局（DARPA）啟動(dòng)微電子系統(tǒng)增材制造（AMME）計(jì)劃，致力于提升增材制造電子產(chǎn)品（AME）技術(shù)。AMME計(jì)劃旨在將AME工藝分辨率提高20倍，達(dá)到0.5μm（500nm）規(guī)模，進(jìn)一步加速電子產(chǎn)品的增材制造發(fā)展。

資源庫 / 3月14日消息，美國(guó)國(guó)防高級(jí)研究計(jì)劃局（DARPA）啟動(dòng)微電子系統(tǒng)增材制造（AMME）計(jì)劃，致力于提升增材制造電子產(chǎn)品（AME）技術(shù)。AMME計(jì)劃旨在將AME工藝分辨率提高20倍，達(dá)到0.5μm（500nm）規(guī)模，進(jìn)一步加速電子產(chǎn)品的增材制造發(fā)展。